特許
J-GLOBAL ID：200903075695371670
薄膜磁気ヘッドの検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
梅田 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-336342
公開番号（公開出願番号）：特開平6-187619
出願日： 1992年12月16日
公開日（公表日）： 1994年07月08日
要約：
【要約】【目的】 磁気抵抗効果型薄膜磁気ヘッドの動作特性において発生するバルクハウゼンノイズの発生の有無を検査する。【構成】 内蔵記録ヘッドコイルに交流電流を通電し、薄膜磁気ヘッドを励磁し動作させ、MR出力特性におけるノイズの発生の有無を測定する。【効果】 磁気ヘッド内、特に下部ヨークで発生するノイズの有無を検査することが出来る。
請求項（抜粋）：
磁気抵抗効果素子を具備して磁気記録媒体に記録された信号の検出を行う薄膜磁気ヘッドにおいて、誘導型薄膜磁気ヘッドを内蔵している複合型薄膜磁気ヘッドにおいて、前記内蔵記録ヘッド用コイル導体に、交流電流を通電し前記複合型薄膜磁気ヘッドを励磁し、前記磁気抵抗効果素子の出力特性におけるノイズの発生の有無を測定したことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの検査方法。
IPC (2件)：
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