特許

J-GLOBAL ID：200903075715955950

位置測定方法

発明者： 松本 重貴
出願人/特許権者： 株式会社ディーディーアイ
代理人 (1件)： 脇 篤夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-305395
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124555
出願日： 1999年10月27日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 地磁気あるいは人工的に発生した磁界の乱れの有無にかかわらず、これらの磁界を参照して位置測定を行う。【解決手段】 位置測定系PMAは、所定間隔離して設けられたTMM1とTMM2の2個の3軸磁気測定手段、傾斜角測定手段TAMおよび回転角測定手段RAMを有している。まず、その位置および方位あるいは磁界の方向が既知の第1の地点において、前記TMM1で磁界を測定する。次に、TMM2を前記第1の地点に移動し、TMM2で磁界を測定する。そして、移動前にTMM1で測定した磁界、移動後にTMM2で測定した磁界、傾斜角および回転角から、位置測定系PMAの方位を算出し、移動後のTMM1の位置(第2の地点)を算出する。以下、第2の地点を第1の地点として、繰り返し上記の手順を繰り返す。

請求項（抜粋）：

所定の間隔をもって配置された第1と第2の3軸磁気測定手段、傾斜角測定手段および回転角測定手段を有する位置測定系を用いて、該位置測定系を移動したときのその移動後の位置を測定する位置測定方法であって、その地点の位置およびその地点における位置測定系の方位あるいは磁界の方向が既知である第1の地点において、前記第1の3軸磁気測定手段により磁界を測定する第1のステップ、前記第2の3軸磁気測定手段が前記第1の地点に位置するように前記位置測定系を移動する第2のステップ、前記移動後に前記第2の3軸磁気測定手段により磁界を測定する第3のステップ、および、前記第1のステップの測定結果と前記第3のステップの測定結果とから前記位置測定系の方位を算出し、該算出した方位および前記第1の3軸磁気測定手段と第2の3軸磁気測定手段との間隔に基づいて、前記移動後の前記第1の3軸磁気測定手段の位置である第2の地点の位置を算出する第4のステップを有することを特徴とする位置測定方法。

IPC (3件)：

G01C 15/00 ,  E21D 9/06 311 ,  G01B 21/00

FI (3件)：

G01C 15/00 A ,  E21D 9/06 311 D ,  G01B 21/00 E

Fターム (20件)：

2D054AC18 ,  2D054EA03 ,  2D054GA04 ,  2D054GA62 ,  2D054GA65 ,  2D054GA81 ,  2D054GA85 ,  2F069AA04 ,  2F069AA06 ,  2F069BB01 ,  2F069BB40 ,  2F069EE20 ,  2F069FF00 ,  2F069GG06 ,  2F069GG59 ,  2F069HH15 ,  2F069HH30 ,  2F069KK01 ,  2F069KK10 ,  2F069NN06