特許

J-GLOBAL ID：200903075794814487

電気機器の劣化診断方法及び装置

発明者： 竹澤 由高 ,  片桐 純一 ,  伊藤 雄三 ,  佐藤 重勝
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-163712
公開番号（公開出願番号）：特開平10-074628
出願日： 1997年06月20日
公開日（公表日）： 1998年03月17日
要約：

【要約】【課題】電気機器の運転を停止することなく、絶縁油や絶縁紙,モールド樹脂等の材料の劣化度を非破壊で診断すること。【解決手段】2波長間の反射吸光度の差や比から材料の劣化度を非破壊で診断できる光ファイバーセンサを用いた電気機器の劣化診断方法及び装置。

請求項（抜粋）：

波長が相異なる少なくとも2種の単色光光源からの照射光を照射用光ファイバーで電気機器内部に導き、該照射用光ファイバーからの出射光は透過距離aなる絶縁媒体中を透過後、電気機器外部に導かれる受光用光ファイバーに入射,伝送し、光量測定部に導かれ、該単色光光源の光源強度を該光量測定部での強度が全て一定値となるように光量調整した後、該単色光光源からの照射光を照射用光ファイバーで電気機器内部に導き、透過距離a/2の位置にある絶縁材料表面に照射し、該絶縁材料表面からの反射光を電気機器外部に導く受光用光ファイバーを用いて光量測定部に導き、劣化度演算部において該光量測定部からの出力値より各波長における反射吸光度(A<SB>λ</SB>)を(1)式で算出後、任意の2波長間の反射吸光度差(ΔA<SB>λ</SB>)あるいは反射吸光度比(A<SB>λ</SB>′)を(2)式あるいは(3)式で演算し、さらに予め記憶させた被測定材料の劣化度と反射吸光度差あるいは反射吸光度比との関係(マスターカーブ)を比較演算することによって劣化度を判定することを特徴とする電気機器の劣化診断方法。【数1】 A<SB>λ</SB>=-log(R<SB>λ</SB>/100) ...(1) ΔA<SB>λ</SB>=A<SB>λ1</SB>-A<SB>λ2</SB>(ただし、λ1<λ2) ...(2) A<SB>λ</SB>′=A<SB>λ1</SB>/A<SB>λ2</SB>(ただし、λ1<λ2) ...(3)(波長λ(nm)における被測定物の反射率をR<SB>λ</SB>(%)とする)

IPC (3件)：

H01F 27/00 ,  G01N 21/49 ,  G01R 31/00

FI (3件)：

H01F 27/00 B ,  G01N 21/49 Z ,  G01R 31/00