特許
J-GLOBAL ID：200903075839784509
光学装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高梨 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-272984
公開番号（公開出願番号）：特開平9-105647
出願日： 1985年03月18日
公開日（公表日）： 1997年04月22日
要約：
【要約】【課題】 互いに直交する偏光方位を有する2つの直線偏光光束間の相互位相変化に伴う干渉光強度の変化を所定の位相を高精度に取り出すことができる光学装置を得ること。【解決手段】 直交する偏光方位を有する2つの直線偏光光束の合波光束が通過する位置に前記2光束のいずれかの偏光方位に対して偏光軸を45°傾けて設けられた1/4波長板と、該1/4波長板を通過した光束から所定の偏光方位成分を選択するための偏光方位選択手段とを有すること。
請求項（抜粋）：
直交する偏光方位を有する2つの直線偏光光束の合波光束が通過する位置に前記2光束のいずれかの偏光方位に対して偏光軸を45°傾けて設けられた1/4波長板と、該1/4波長板を通過した光束から所定の偏光方位成分を選択するための偏光方位選択手段とを有することを特徴とする光学装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01D 5/38 A
, G02B 27/28 Z
