特許

J-GLOBAL ID：200903075871093526

密封包装製品のシール検査方法

発明者： 武田 正洋
出願人/特許権者： 株式会社イシダ
代理人 (1件)： 福岡 正明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-360258
公開番号（公開出願番号）：特開平5-180725
出願日： 1991年12月26日
公開日（公表日）： 1993年07月23日
要約：

【要約】【目的】 気体が封入されている密閉包装製品のシール検査において、ピンホールのような微細なシール欠陥がある場合でも、該シール欠陥を短時間で検出できるようにする。【構成】 密閉包装製品Aをエアシリンダ9で下圧して、該製品Aの袋厚の変化をストロークセンサ10で検出すると共に、微細なシール欠陥部において空気のリークによって生じる超音波を超音波センサ11で検出する。

請求項（抜粋）：

気体が封入されている包装製品のシール検査方法であって、上記包装製品に圧力をかけて気体が包装袋からリークする際の超音波を超音波センサで検出することを特徴とする密封包装製品のシール検査方法。