特許

J-GLOBAL ID：200903075910449260

工場診断方法及びその装置、工場診断プログラム

発明者： 小島 隆洋 ,  尾崎 哲 ,  加藤 正幸 ,  八重樫 昭徳 ,  三橋 良志雄 ,  中村 義之
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (7件)： 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  坪井 淳 ,  橋本 良郎 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  河井 将次
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-259000
公開番号（公開出願番号）：特開2004-102325
出願日： 2002年09月04日
公開日（公表日）： 2004年04月02日
要約：

【課題】工場の現状評価をばらつきなく精度高く行って適切な改善策を提案できると共に、改善効果の把握がしやすいこと。【解決手段】工場の現状情報に基づいて工場に対する評価を行い、この評価結果に基づいて工場の改善箇所に対する改善策を決定する工場診断装置において、工場の評価を定量的に表わした定量評価項目と、定性的に表わした定性評価項目とを用いて工場の評価を行う診断項目評価手段を備えた。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

工場の現状情報に基づいて前記工場に対する評価を行い、この評価結果に基づいて前記工場の改善箇所に対する改善策を決定する工場診断方法において、 前記工場の評価項目は、定量的に表わした定量評価項目と、定性的に表わした定性評価項目とを含むことを特徴とする工場診断方法。

IPC (2件)：

G05B19/418 ,  G06F17/60

FI (3件)：

G05B19/418 Z ,  G06F17/60 106 ,  G06F17/60 168

Fターム (4件)：

3C100AA02 ,  3C100AA70 ,  3C100BB13 ,  3C100BB17