特許

J-GLOBAL ID：200903075937905306

品質情報解析支援装置、品質情報解析支援システム及び品質情報解析支援用プログラム

発明者： 藤原 仁 ,  山口 康裕 ,  梅田 秀徳 ,  堀 貞芳
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 西脇 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-314267
公開番号（公開出願番号）：特開2003-122817
出願日： 2001年10月11日
公開日（公表日）： 2003年04月25日
要約：

【要約】【課題】 検査部門及び製造部門が部品品質情報を共有化することにより、部品品質の改善を速やかに行なうことのできる品質情報解析支援装置を提供する。【解決手段】 本発明の品質情報解析支援装置は、部品を受入検査して得られた受入時部品品質情報を検査部門のコンピュータ3から受入検査結果データベース55に記録するとともに、部品を用いて製品を製造する際に発生した製造時部品品質情報を製造部門のコンピュータ4から受入検査結果データベース55に記録しておく。そして、受入検査結果データベース55に対してアクセスがあったとき、受入時部品品質情報と製造時部品品質情報とをリンクさせて表示画面3aや4aに表示する。

請求項（抜粋）：

部品を受入検査して得られた受入時部品品質情報を記録手段に記録するとともに、前記部品を用いて製品を製造する際に発生した製造時部品品質情報を前記記録手段に記録して、前記記録手段に対してアクセスがあったとき前記受入時部品品質情報と前記製造時部品品質情報とをリンクさせて表示画面に表示することを特徴とする品質情報解析支援装置。

IPC (2件)：

G06F 17/60 106 ,  G05B 19/418

FI (2件)：

G06F 17/60 106 ,  G05B 19/418 Z

Fターム (4件)：

3C100AA57 ,  3C100AA58 ,  3C100BB05 ,  3C100BB27