特許
J-GLOBAL ID：200903075974223290
回路基板の検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西教 圭一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-133933
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322959
出願日： 1992年05月26日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：
【要約】【目的】 確認すべき検査の組合わせの数をできる限り減少させ、検査の自動化を容易にし、製造コストを低減する。【構成】 基板用検査治具6内の1〜nの信号発生機から、回路基板の入出力端子5へ、端子毎に異なる周波数の信号を同時に入力する。入出力端子5に入力された信号を外部端子7へ出力し、信号切換装置8によって順次選択して、周波数検出機9で確認する。周波数検出機9ですべての周波数が正しいと確認された場合、回路基板の入出力端子5には、短絡箇所はないと判定する。
請求項（抜粋）：
複数の入出力端子が設けられる回路基板の入出力端子の短絡検査装置において、回路基板の外部から各入出力端子毎に異なる周波数の信号を複数の入出力端子に同時に与える信号入力手段と、各入出力端子を経由した信号を受信し、受信信号の周波数を検出する周波数検出手段とを含むことを特徴とする回路基板の検査装置。
IPC (2件)：
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