特許

J-GLOBAL ID：200903075998102176

半導体集積回路装置およびそのテスト方法

発明者： 堀内 通博 ,  矢野 功次
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立超エル・エス・アイ・システムズ
代理人 (1件)： 筒井 大和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-344159
公開番号（公開出願番号）：特開2001-159651
出願日： 1999年12月03日
公開日（公表日）： 2001年06月12日
要約：

【要約】【課題】 スタンバイ電流テストにおけるテスト時間を大幅に短縮し、かつ高精度に不良を検出する。【解決手段】 テストモードが設定されると、バスコントローラ2からハイレベルのテストモード信号TMが出力される。バスサイクルエンド信号BEにより、論理積回路6の出力がハイレベルとなるとフリップフロップ8はデータ端子からハイレベルのテスト信号Teを出力する。この信号により、システム動作クロックCKi、ならびに電源電圧の供給が停止する。電源ラインモニタ11は、内部電源ライン5の電圧レベルがしきい値以下になるとローレベルのモニタ信号Mを出力する。テスタは、モニタ信号Mに基づいてスタンバイ電流テストの判定を行う。スタンバイ電流の検出時間は、アナログディレイ7に遅延された信号がフリップフロップ8のリセット端子Rに入力されるまでの間となる。

請求項（抜粋）：

テスト信号に基づいて、システム動作クロックの供給を停止し、内部論理回路をスタンバイ状態にするクロック供給制御部と、テスト信号に基づいて、内部電源線への電源電圧の供給を制御する電源電圧供給制御部と、前記内部電源線の電圧レベルをモニタし、前記内部電源線がある基準電圧以下になるとモニタ信号を出力する電源線モニタ部とよりなるスタンバイテスト手段を備えたことを特徴とする半導体集積回路装置。

Fターム (4件)：

2G014AA03 ,  2G014AA16 ,  2G014AB59 ,  2G014AC18