特許
J-GLOBAL ID：200903076025566973
X線診断装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-012740
公開番号（公開出願番号）：特開平6-217963
出願日： 1993年01月28日
公開日（公表日）： 1994年08月09日
要約：
【要約】【目的】本発明は、価格が高騰したり装置が大型化することなく、自動露出の制御信号を検出する検出野を多数設け、多様な輝度分布をもたらす種々の診断においても、最適濃度の像を得ることができるX線診断装置を提供することを目的とする。【構成】本発明は、X線管1からX線を被検体に向けて曝射せしめ、上記被検体を透過した透過X線を検出してX線像を形成するX線診断装置において、上記透過X線の少なくとも一部を変換した可視光を検出し、この検出信号を露出制御のための露出制御部14に供給する固体撮像素子13を具備したことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
X線管からX線を被検体に向けて曝射せしめ、前記被検体を透過した透過X線を検出してX線像を形成するX線診断装置において、前記透過X線の少なくとも一部を変換した可視光を検出し、この検出信号を露出制御のための演算手段に供給する固体撮像素子を具備したことを特徴とするX線診断装置。
IPC (2件)：
A61B 6/00 320
, A61B 6/00
