特許

J-GLOBAL ID：200903076088737832

ソフトイオン化質量分析計

発明者： 足立 正之 ,  平野 恭司 ,  中村 静雄 ,  永田 寧
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所 ,  日本真空技術株式会社
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-262238
公開番号（公開出願番号）：特開平9-082271
出願日： 1995年09月15日
公開日（公表日）： 1997年03月28日
要約：

【要約】【課題】 ソフトイオン化質量分析における一次イオンの選択性を向上し、スペクトルを高速に得ることができるソフトイオン化質量分析計を提供すること。【解決手段】 一次イオン化室1からの一次イオンを二次イオン化室4に向けて送り込み、この一次イオンによって二次イオンを発生させるようにしたソフトイオン化質量分析計において、前記一次イオンを選択して二次イオン化室4に送るように構成するとともに、この選択された一次イオンが二次イオン化室4に到達するタイミングに合わせて、二次イオン化室4の加速電極5に加速パルスを与え、等エネルギーで加速するようにしている。

請求項（抜粋）：

一次イオン化室からの一次イオンを二次イオン化室に向けて送り込み、この一次イオンによって二次イオンを発生させるようにしたソフトイオン化質量分析計において、前記一次イオンを選択して二次イオン化室に送るように構成するとともに、この選択された一次イオンが二次イオン化室において電荷交換が発生するタイミングに合わせて、二次イオン化室の加速電極に加速パルスを与え、等エネルギーで加速するようにしたことを特徴とするソフトイオン化質量分析計。

IPC (4件)：

H01J 49/10 ,  H01J 49/40 ,  H01J 49/42 ,  G01N 27/62

FI (5件)：

H01J 49/10 ,  H01J 49/40 ,  H01J 49/42 ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 L

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平4-242063
  
• 特開昭61-082651
  
• タンデム質量分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-298100   出願人：ユニサーチ・リミテツド