特許

J-GLOBAL ID：200903076096600943

ピンスポット用プレートカラム装置

発明者： 萱森 友美 ,  甲田 公良 ,  守谷 里美 ,  渡辺 進
出願人/特許権者： 株式会社日立サイエンスシステムズ
代理人 (1件)： 春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-321426
公開番号（公開出願番号）：特開2005-091007
出願日： 2003年09月12日
公開日（公表日）： 2005年04月07日
要約：

【課題】質量分析計で分析される測定試料の脱塩処理を低コストで迅速かつ感度向上に役立つ微小結晶化が可能なピンスポット用プレートカラム装置を実現する。【解決手段】減圧箱3は上面側が開放された状態であり下部側面は減圧器具に接続される。プレートカラム1はサンプルプレート2のサンプル塗布位置に合わせたサンプル脱塩処理用の穴が形成され、これら複数の穴は焼結フィルタ、充填材を有する。測定対象物の液をカラム1の複数の穴に減圧して流し複数の穴内に対象物を保持させ0.1%トリクロロ酢酸を10〜20μl加え脱塩処理を行う。サンプルプレート2を箱3に設置し75%メタノール等をカラム1に加え測定目的物をサンプルプレート2上に溶出させる。このとき、減圧具合を変化させ、ゆっくりと目的物がサンプルプレート2上に滴下するようにし、サンプルプレート2上で自然乾燥させて微小な結晶を大量に形成させることが可能となる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

質量分析計により分析される測定試料の脱塩前処理を行うピンスポット用プレートカラム装置であって、 脱塩処理を行う充填材が保持された複数の脱塩処理部が形成されたプレートカラムと、 上記プレートカラムに形成された脱塩処理部により脱塩処理された測定試料をスポット状に保持するサンプルプレートと、 上記プレートカラムとサンプルプレートを支持し、その内部が外部に対して減圧される減圧箱と、 上記減圧箱の内部を外部に対して減圧する減圧手段と、 を備えることを特徴とするピンスポット用プレートカラム装置。

IPC (2件)：

G01N1/10 ,  G01N27/62

FI (3件)：

G01N1/10 B ,  G01N1/10 D ,  G01N27/62 F

Fターム (9件)：

2G052AD06 ,  2G052AD26 ,  2G052AD52 ,  2G052DA06 ,  2G052EB01 ,  2G052EB04 ,  2G052ED07 ,  2G052GA24 ,  2G052HC25

引用特許：

出願人引用 (1件)

• MALDI-TOF質量分析装置用サンプラ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-219415   出願人：株式会社島津製作所