特許

J-GLOBAL ID：200903076107477219

半導体集積回路、半導体集積回路のメモリリペア方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体

発明者： 山本 誠二 ,  後藤 宏二 ,  岡本 泰
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-199859
公開番号（公開出願番号）：特開2002-014875
出願日： 2000年06月30日
公開日（公表日）： 2002年01月18日
要約：

【要約】【課題】 歩留まりを向上させる半導体集積回路を得ること。【解決手段】 複数のRAM10〜12と、補充用のRAM13と、複数のRAM10〜12の不良検出をテストするテスト/リペア・コントロール・ロジック2,3と、テスト/リペア・コントロール・ロジック2,3によるテスト結果に応じたリペア制御信号に基づいて、複数のRAM10〜12のうちで不良が検出されたRAMに対応させて補充用のRAM13を補充するセレクタ20〜23,30〜32とを備えている。

請求項（抜粋）：

複数のメモリと、補充用のメモリと、前記複数のメモリの不良検出をテストする第1のテスト手段と、前記第1のテスト手段によるテスト結果に応じた補充制御信号に基づいて、前記複数のメモリのうちで不良が検出されたメモリに対応させて前記補充用のメモリを補充する補充制御手段と、を具備することを特徴とする半導体集積回路。

IPC (6件)：

G06F 12/16 310 ,  G06F 12/16 330 ,  G01R 31/28 ,  G11C 29/00 603 ,  G11C 29/00 671 ,  G11C 29/00

FI (8件)：

G06F 12/16 310 P ,  G06F 12/16 330 C ,  G11C 29/00 603 Z ,  G11C 29/00 671 B ,  G11C 29/00 671 M ,  G01R 31/28 B ,  G01R 31/28 V ,  G01R 31/28 Y

Fターム (24件)：

2G032AA07 ,  2G032AC03 ,  2G032AC10 ,  2G032AG07 ,  2G032AH07 ,  2G032AK16 ,  2G032AK19 ,  2G032AL11 ,  5B018GA03 ,  5B018GA06 ,  5B018HA04 ,  5B018JA21 ,  5B018KA13 ,  5B018NA01 ,  5B018QA13 ,  5L106CC01 ,  5L106CC14 ,  5L106CC16 ,  5L106DD08 ,  5L106DD21 ,  5L106DD32 ,  5L106EE02 ,  5L106EE05 ,  5L106GG06