特許
J-GLOBAL ID：200903076179949280

レーザー脱離イオン化質量分析装置

発明者：
山口 実

山口 実 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-215063
公開番号（公開出願番号）：特開平10-040858
出願日： 1996年07月26日
公開日（公表日）： 1998年02月13日
要約：
【要約】【課題】 レーザー光照射によるイオン化を促進する。【解決手段】 レーザー光照射によるイオン化の前に、ランプ12からの光をレンズ14で集光しフィルター15で調光して分析対象物4に照射しておく。レーザー光はフィルター11で調光され、レンズ10で集光されて分析対象物4に照射され、イオン化が行なわれる。発生したサンプルイオンはサンプルスライド2に印加された電圧Voとイオンレンズ22の分析対象物側のグランド電位とによって引き出され、その引き出されたイオンは次段のイオンレンズに印加された電圧VLによって平行飛行をし、分析される。
請求項（抜粋）：
サンプルのみ又はサンプルとマトリックスとの混合物が分析対象物として設置されるイオン化室、その分析対象物にレーザー光を照射してサンプルをイオン化するレーザー照射光学系、及びイオン化されたサンプルイオンを引き出し質量数に応じて分離検出する質量分析部を備えたレーザー脱離イオン化質量分析装置において、分析対象物がサンプルのみの場合はサンプルにより吸収され、分析対象物がサンプルとマトリックスとの混合物の場合にはマトリックス又はサンプルにより吸収される波長域の光を分析対象物に照射する補助光照射光学系をさらに備えたことを特徴とするレーザー脱離イオン化質量分析装置。
IPC (2件)：
H01J 49/26 ,  H01J 49/10
FI (2件)：
H01J 49/26 ,  H01J 49/10
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (1件)
  • 特開昭62-232847

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