特許
J-GLOBAL ID:200903076244087002
磁性体の比較測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴江 孝一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-160905
公開番号(公開出願番号):特開平6-003327
出願日: 1992年06月19日
公開日(公表日): 1994年01月11日
要約:
【要約】【目的】 磁性体である鉄系金属材料の品質に大きく関与する重量と材質及び組織を、従来の超音波探傷検査などの非破壊検査に比べて、高精度・高スピードに測定することができるとともに、装置の耐久性の向上を図れるようにする。【構成】 マスターコイル1とテストコイル2とに励磁電圧を印加して、各コイル1,2の2次巻線1b,2bに誘起される電圧の位相差を計測することで、材質および組織の差異を判別する一方、上記各コイル1,2の2次巻線1b,2bに誘起される電圧の最大値との電位差を計測することで、重量の差異を判別するように構成している。
請求項(抜粋):
磁性体の重量と材質及び組織の差異を非破壊・非接触で比較測定するための磁性体の比較測定装置であって、マスターワークを挿入するマスターコイルおよびテストワークを挿入するテストコイルの1次巻線を励磁するための励磁電圧を発生する励磁電圧発生回路と、上記マスターコイルおよびテストコイルの1次巻線に励磁電圧を印加したとき、上記各コイルの2次巻線に誘起される電圧を増幅する増幅回路と、これら増幅回路の出力信号の雑音を除いて基本波だけを通過させるためのフィルター回路と、これら各フィルター回路の出力信号の上記マスターコイルの2次巻線に誘起される電圧の零クロス時限および上記テストコイルの2次巻線に誘起される電圧の零クロス時限をそれぞれ検出する零クロス発生回路と、これら各零クロス発生回路が発生したマスターコイル側の2次巻線の誘起電圧の位相とテストコイル側の2次巻線の誘起電圧の位相との位相差を計測する位相差計測回路と、この位相差計測回路に位相差を計測するための基準クロックを供給する基準クロック発生回路と、上記位相差計測回路の計測出力信号を演算して、設定された良否の判定レベルと比較する比較回路と、この比較回路から出力される判定信号を論理演算してテストワークのマスターワークに対する材質及び組織の差異を測定する論理演算回路とを備えてなる磁性体の材質及び組織の比較測定系を有しているとともに、上記各フィルター回路の出力信号をそれぞれ絶対値整流する絶対値整流回路と、これら絶対値整流回路の出力信号の最大値を記憶保持する最大値保持回路と、これら最大値保持回路の出力信号の差異を検出し増幅する差動増幅回路と、この差動増幅回路の出力信号と設定された良否の判定レベルとを比較する比較回路と、この比較回路から出力される判定信号を論理演算して、テストワークのマスターワークに対する重量の差異を測定する論理演算回路とを備えてなる磁性体の重量の比較測定系を有していることを特徴とする磁性体の比較測定装置。
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