特許

J-GLOBAL ID：200903076244841190

三次元物体表面の非接触測定装置

発明者： キュームシュテッツ ペーター ,  シュライバー ヴォルフガング ,  ノートニィ グンター
出願人/特許権者： フラウンホッファー-ゲゼルシャフト ツァー フェーデルング デア アンゲバンテン フォルシュング エー.ファー.
代理人 (1件)： 西脇 民雄
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-539429
公開番号（公開出願番号）：特表2000-509505
出願日： 1997年04月30日
公開日（公表日）： 2000年07月25日
要約：

【要約】本発明は、物体表面にストリップ構造体を投影する投影装置と、物体表面上の測定ポイントにてストリップ構造体を記録する観測装置と、物体を観測装置と共に第1回転軸の回りに回転する装置と、所定の座標系内のストリップ構造体の位相値を用いて測定ポイントの座標を決定する評価装置とを備え、測定室内の三次元物体の表面を非接触にて測定するための装置に関する。物体を第1回転軸(D1)から独立して少なくとも第2回転軸の回りを移動するための装置(8)と、較正ユニットとが設けられ、較正ユニット(10)は所定の座標系内にて第2回転軸(D2)の位置を決定することができる。

請求項（抜粋）：

物体表面にストリップ構造体を投影する投影装置と、物体表面上の測定ポイントにてストリップ構造体を検知する観測装置と、観測装置と共に物体を第1回転軸の回りに回転する装置と、所定の座標系内のストリップ構造体の位相値を用いて測定ポイントの座標を決定する評価装置とを備え、精密測定のための空間内の三次元物体の表面を非接触にて測定するための装置において、 物体を第1回転軸(D1)から独立して少なくとも第2回転軸の回りを移動させるための装置(8)と、較正ユニットとが設けられ、較正ユニット(10)は所定の座標系内にて第2回転軸(D2)の位置を決定することができることを特徴とする装置。