特許

J-GLOBAL ID：200903076295042828

3次元形状計測装置および方法

発明者： 東海 研
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (3件)： 澤田 俊夫 ,  宮田 正昭 ,  山田 英治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-359808
公開番号（公開出願番号）：特開2004-191198
出願日： 2002年12月11日
公開日（公表日）： 2004年07月08日
要約：

【課題】被測定対象上のストライプパターンを複数のカメラで撮影して撮像画像のエッジを対応づけ三角測量する際に,エッジ検出を確実に行う。【解決手段】測定対象が存在する領域の設定を行う(S10)。次にこの領域内に存在する画素数Nregをカウントする(S11)。次に,検出されるべきエッジの総数をNpre=Nreg/Nstrにより推定する(S12,S13)。Nstrはストライプ幅に存在する画素数である。次にエッジオペレータによってあるパラメータのもとで検出されるエッジ数をNtryとしたとき,NtryがNpreにほぼ等しくなるようにパラメータを設定してエッジ検出を行う(S14〜S18)。この処理をNtryとNpreの差がある閾値Dth以下になるまで反復的に行う。【選択図】 図4

請求項（抜粋）：

光源を用いて与えられた符号化されたストライプパターンを投影する投光手段と,該投光手段によって投光されるパターンと光学的にほぼ同一主点および同一光軸を有する第1のカメラと,前記第1のカメラと異なる位置に主点を持つように配置された第2のカメラとを具備し,前記第1のカメラおよび前記第2のカメラにより撮像されたパターン投影画像におけるエッジ同士の対応付けを行って三角測量を行う3次元形状計測装置において, 前記第1のカメラにより撮像したパターン投影画像において測定対象が存在する領域を設定し,領域内の画素数を決定する領域内画素数決定手段と, 前記第1のカメラにより撮像されるであろうパターン投影画像のストライプ幅の画素数を記憶するストライプ幅画素数記憶手段と, 前記パターン投影画像のストライプ幅の画素数と前記領域内の画素数とを用いて,検出されるべきエッジの総数を予測するエッジ総数予測手段と, 前記エッジの総数の予測値に最も近くなるようにエッジ検出を行うエッジ検出手段とを有することを特徴とする3次元形状計測装置。

IPC (2件)：

G01B11/25 ,  G01B11/24

FI (3件)：

G01B11/24 E ,  G01B11/24 K ,  G01B11/24 A

Fターム (13件)：

2F065AA12 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF04 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ43 ,  2F065QQ51