特許

J-GLOBAL ID：200903076345142489

ファクトリ・プログラムドデバイスの製造システム及び製造方法

発明者： ミシェル・ジェイ・キャンプマス ,  ウィリアム・エイ・ジョンストン ,  ガイビン・チェン
出願人/特許権者： マトラ・デザイン・セミコンダクター・インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 大島 陽一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-318390
公開番号（公開出願番号）：特開平5-167046
出願日： 1991年11月06日
公開日（公表日）： 1993年07月02日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】PLD回路の論理記述及び機能しているPLDデバイスを用いて、PLDを置き換えるようにファクトリ・プログラムド回路を設計するシステム及び方法を提供する。【構成】ブロック201〜208、および211がデータ入力ファイルについてのプログラムの実行を表している。エキスパートシステムが論理記述に基づく論理回路モデルを合成する。自動テストパターンジェネレータが、エキスパートシステムによって作成される論理回路モデルに期待応答信号を含むテストベクトルを供給する。自動生成されたテストベクトルは、テスタ204に供給されかつそれによって入力刺激としPLDに印加される。PLDの出力信号を期待応答信号に対して209で照合する。PLDの出力信号が期待応答信号に適合する場合には、コンピュータモデルを正しいとして、論理記述に記述された機能を実行211するマスクプログラマブル回路を構成するためのマスクレイアウトを開始できる。

請求項（抜粋）：

論理記述と該論理記述を実施するサンプルデバイスとを用いてファクトリ・プログラムドデバイスを製造するためのシステムであって、前記論理記述を受けて、それから論理回路のコンピュータモデルを作成する第1手段と、前記コンピュータモデルから刺激信号及び期待出力信号を含むテストプログラムを作成する第2手段と、前記サンプルデバイスをテストして前記サンプルデバイスから前記刺激信号に応答する出力信号を得、かつ前記サンプルデバイスによって供給される出力信号に対して前記期待出力信号を照合する第3手段とを備えることを特徴とするファクトリ・プログラムドデバイスの製造システム。

IPC (6件)：

H01L 27/118 ,  G06F 7/00 ,  G06F 11/22 330 ,  G06F 15/60 360 ,  H01L 21/82 ,  H03K 19/173 101

FI (3件)：

H01L 21/82 M ,  G06F 7/00 D ,  H01L 21/82 A