特許
J-GLOBAL ID：200903076450216633
プリントヘッドの検査方法及びプリントヘッドの検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-207814
公開番号（公開出願番号）：特開2001-030536
出願日： 1999年07月22日
公開日（公表日）： 2001年02月06日
要約：
【要約】【課題】 本発明はプリントヘッドの検査方法及びプリントヘッドの検査装置に関し、LEDチップのバラツキ(LEDチップ間の距離)の測定を行なうことにより、歩どまりの悪いLEDアレイを除去することができるプリントヘッドの検査方法及びプリントヘッドの検査装置を提供することを目的としている。【解決手段】 ラインセンサを有する画像読取装置11と、ラインセンサから送られてきた情報をディジタル画像に変換し、演算処理を行ない、被検査物の測定距離を算出する画像処理装置10と、LEDアレイ基板のLEDチップの各チップ毎に一定の電流値に制御してLEDチップを点灯させる点灯装置10とを具備して構成される。
請求項（抜粋）：
複数の構造物が少なくとも1列ライン状に配置されたプリントヘッドの配置の検査方法であって、ラインセンサを有する読み取り手段に対して、前記プリントヘッドを所定方向に配置し、前記ラインセンサによりプリントヘッドによる画像信号を得、得られた画像信号に所定の画像処理を行ない前記構造物の配置を検出することを特徴とするプリントヘッドの検査方法。
IPC (3件)：
B41J 2/44
, B41J 2/45
, B41J 2/455
2C162AE21
, 2C162AE28
, 2C162AE47
, 2C162AE48
, 2C162AF07
, 2C162AF84
, 2C162FA04
, 2C162FA17
, 2C162FA35
