網点領域判定装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：稲岡耕作 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-295387
公開番号（公開出願番号）：特開平8-163354
出願日： 1994年11月29日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：

【要約】【構成】メモリ51a 〜51d からそれぞれ与えられる画像データに並列に二値化処理が施されると、その二値化データはシフトレジスタSR1 〜SR4 に与えられる。次いで、t画素分の二値化データがレジスタSR1 〜SR4 に与えられると、これに応答して上記二値化データのパターンと線数ごとに分類された1次元のマスクパターンとのマッチング状態が各パターンの間のハミング距離に基づいて認識され、この認識されたマッチング状態に基づき、マッチング状態が高いほど大きく重み付けられた判定値が各線数ごとに記憶される。そして、この記憶された判定値のうち最大の判定値がしきい値以上であれば、レジスタSR1 〜SR4 に記憶された二値化データに対応する画素を含む領域が網点領域と判定される。【効果】1次元のマスクパターンを利用しているので、回路規模を簡素化できる。また、各ラインごとに並列に処理しているので、処理の迅速化を図れる。

請求項（抜粋）：

原稿画像を読取ってその濃度に対応する画像データに変換して出力する変換手段と、この変換手段から出力された画像データの中から複数(s個) のラインに対応する画像データを保持する保持手段と、この保持手段に保持されている画像データに基づいてピーク画素またはディップ画素を各ラインごとに並列に検出する検出手段と、所定数(t個)の画素で構成され、網点領域を表す一次元のマスクパターンがドットの周期である線数ごとに分類されて記憶されているパターン記憶手段と、上記検出手段の検出結果のうち、連続する所定数(t個) の画素に対応する検出結果のパターンと上記パターン記憶手段に記憶されたマスクパターンとのマッチ状態を各ラインごとに並列に認識するマッチ状態認識手段と、このマッチ状態認識手段でラインごとに認識された各パターンのマッチ状態に基づき、マッチ状態が高いほど大きく重み付けされた判定値を各線数ごとに合計して記憶する判定値記憶手段と、この判定値記憶手段で記憶された判定値のうち最大の判定値が所定のしきい値以上であるか否かを判別する判別手段と、この判別手段での判別の結果、上記判定値がしきい値以上であると判別されると、上記マッチ状態認識手段でマッチ状態が認識された画素をすべて含む領域を当該線数の網点領域であると判定する判定手段とを有することを特徴とする網点領域判定装置。

IPC (2件)：

H04N 1/40 , G06T 7/00

FI (2件)：

H04N 1/40 F , G06F 15/70 330 Z

引用特許：

出願人引用 (5件)

特開平3-080771
特開昭55-100549
特開昭63-279665

全件表示

審査官引用 (2件)

特開平3-080771
特開昭55-100549

前のページに戻る