特許
J-GLOBAL ID：200903076532520861
分光スペクトル測定器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-065571
公開番号（公開出願番号）：特開平6-026930
出願日： 1992年03月24日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：
【要約】【目的】分光スペクトル測定器で、機械的角度変化機構を持たない分光プリズムとCCDラインイメージセンサを用いて分光スペクトル分布特性を測定する。【構成】被測定光を光学レンズ系1にて平行光に変換し、固定された定偏角の分光プリズム2に入射させる。分光プリズム2に分光された被測定光aはCCDラインイメージセンサ3にて全ての波長同時に電気信号に変換され、補正回路4にて、CCDイメージセンサ3の波長-感度特性を補正した後に出力として被測定光aの分光スペクトル分布特性を得る。
請求項（抜粋）：
測定する光を平行な光にして出力する光学レンズ系と、前記平行な光を分光して出力する定偏角の分光プリズムと、前記分光された全波長を直線に配列された複数の受光素子で走査し電気信号として出力するイメージセンサと、このイメージセンサの波長感度特性に応じて前記電気信号を補正し出力する補正回路とを有することを特徴とする分光スペクトル測定器。
IPC (2件)：
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