特許
J-GLOBAL ID：200903076536862279
光学式検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-333585
公開番号（公開出願番号）：特開平5-164554
出願日： 1991年12月17日
公開日（公表日）： 1993年06月29日
要約：
【要約】【目的】 論理出力が可能な光学式検出器を提供する。【構成】 発光素子と、駆動回路と、発光素子から出射された光を被検出物体に投射する投光光学系と、反射光をその入射方向に応じて異なる位置に集光する受光光学系と、反射光の集光位置に配設された複数の受光面を有する受光素子と、この受光素子の出力信号を処理する信号処理回路と、駆動回路と信号処理回路との動作タイミングを同期させる同期手段とを備える。測定すべき入射パルス光の集光位置の偏位は、複数の受光面からの出力の変化となって現れ、コンパレータで基準レベルと比較される。したがって、コンパレータからの電気パルス出力より、上記の集光位置の偏位に対応する論理出力を得ることができる。
請求項（抜粋）：
受光素子および被測定物からのパルス光を前記受光素子に集光する光学系を有する受光光学系と、前記受光素子の出力信号を処理して前記パルス光の集光位置に応じた検出信号を出力する処理手段とを備える光学式検出装置において、前記受光素子は前記パルス光の集光位置の偏位する方向に並置された複数の独立した受光面を有して構成され、前記処理手段は、前記複数の受光面からの出力信号のパルス成分の差分を求める差動手段と、この差動手段の出力レベルを所定の基準レベルと比較するコンパレータと、このコンパレータから出力された電気パルス出力にもとづき前記検出信号を出力する信号処理手段とを有していることを特徴とする光学式検出装置。
IPC (2件)：
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