特許

J-GLOBAL ID：200903076666627450

軸受部品の欠陥検査方法

発明者： 阿部 豊
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-082070
公開番号（公開出願番号）：特開平5-281160
出願日： 1992年04月03日
公開日（公表日）： 1993年10月29日
要約：

【要約】【目的】本発明は、放射線を用いて軸受部品の内部欠陥を容易且つ精度良く検査することができる軸受部品の欠陥検査方法を提供することを目的とする。【構成】軸受部品に対して、少なくとも2方向およびこの2方向で形成される平面に位置しない1方向の計3方向から放射線を照射して軸受部品の内部欠陥を検査することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

軸受部品に対して、少なくとも2方向およびこの2方向で形成される平面に位置しない1方向の計3方向から放射線を照射して前記軸受部品の内部欠陥を検査することを特徴とする軸受部品の欠陥検査方法。

IPC (3件)：

G01N 23/18 ,  F16C 33/30 ,  G01B 15/00

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-292817
  
• 特開昭59-217142
  
• 特開平4-136249
  
• 特開昭51-027386