特許
J-GLOBAL ID：200903076677084717
光周波数領域反射測定方法及び測定回路
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-283246
公開番号（公開出願番号）：特開平8-145846
出願日： 1994年11月17日
公開日（公表日）： 1996年06月07日
要約：
【要約】【目的】本発明は、正確な反射光強度分布を得る光周波数領域反射測定方法及び測定回路を提供することを目的とする。【構成】本発明は、レーザ光源11と外部光変調器12と駆動回路13よりなる光周波数掃引光源と、該光周波数掃引光源の出力光を入力して測定光、参照光を得る第1の光方向性結合器14と、第1の光方向性結合器14の出力光を入力し、出力光を被測定光部品へ導き、被測定光部品からの反射信号光を出力する第2の光方向性結合器16と、第1の光方向性結合器14の出力光と第2の光方向性結合器16の出力光を入力とする第3の光方向性結合器18と、第1の光方向性結合器14から第2の光方向性結合器16に至る光路に挿入される第1の遅延光ファイバ15と、第3の光方向性結合器18の出力光を受信する光受信器19と、光受信器19の出力信号の周波数解析を行う周波数解析装置20を備える。
請求項（抜粋）：
光周波数領域反射測定において、光周波数掃引光源から直接光受信器に至る参照光と、光周波数掃引光源から被測定光部品内部で反射した後に光受信器に至る信号光との光路長差が、被測定光部品の長さのN倍以上となるように参照光路もしくは信号光路に遅延光ファイバを挿入することにより、光周波数掃引光源の出力光が高次の変調側帯波成分を含むときに、(N-1)次以下の変調側帯波成分に起因して発生するビート信号が占める周波数帯域を各々分離することを特徴とする光周波数領域反射測定方法。
IPC (2件)：
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