特許
J-GLOBAL ID：200903076732147677
半導体装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-027826
公開番号（公開出願番号）：特開平5-226632
出願日： 1992年02月14日
公開日（公表日）： 1993年09月03日
要約：
【要約】【目的】本発明は、発光素子の障害を自己回復する光インタコネクト手段を提供する。【構成】シリコンデバイスに組み込まれた正規の発光素子の動作を同様に組み込まれたフォトダイオードとシリコンデバイスの制御回路により監視して、異常が検出された場合は、あらかじめ同様に組み込まれた予備の発光素子に切り替え、システムダウンを回避する。【効果】高性能な光インタコネクトシステムを高信頼度、低経済性で実現することかできる。
請求項（抜粋）：
シリコン半導体技術により形成された機能素子を集積化した半導体集積回路上に、複数個の発光素子と、少なくとも1つの該発光素子の発光を監視する受光素子とを具備し、少なくとも1つの上記発光素子が正常動作しないことを検出すると、上記半導体集積回路上の、上記発光素子とは別の、他の発光素子に切り替えて正常動作を継続する機能を有する半導体装置において、上記発光素子が、上記半導体集積回路中に、埋め込まれて形成されてなることを特徴とする半導体装置。
IPC (4件)：
H01L 27/15
, H01L 27/14
, H01S 3/18
, H03K 17/78
