特許
J-GLOBAL ID：200903076804784260
非接触導電率測定器
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
櫛渕 昌之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-135085
公開番号（公開出願番号）：特開平7-318600
出願日： 1994年05月25日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：
【要約】【目的】 簡単な装置構成で、かつ試料に非接触で導電率を精度良く測定することができる非接触導電率測定器を提供する。【構成】 磁場発生用コイル4にRF(ラジオ周波数)領域における振動磁場を発生させ、この振動磁場内に測定対象物質1を置くことにより測定対象物質1中に誘導電流(励磁電流)iを流し、この誘導電流iによって生じる当該測定対象物質固有のエネルギー損失を、磁場発生コイル4に与える振動電流iの大きさの変化として測定し、測定された振動電流iの大きさと測定対象物質の導電率ρとの相関に基づいて測定対象物質1の導電率ρを非接触で求める。
請求項（抜粋）：
測定対象物質を収納し、RF(ラジオ周波数)領域における振動磁場を発生するコイルと、この磁場発生用コイルに前記RF領域の振動電流を供給する発振回路と、この振動電流を測定する電流測定手段と、測定された前記振動電流に基づいて前記測定対象物質の導電率を求める算出手段と、を備えたことを特徴とする非接触導電率測定器。
IPC (2件)：
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