特許
J-GLOBAL ID:200903076815424028

測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 東野 博文
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-250658
公開番号(公開出願番号):特開平11-088176
出願日: 1997年09月16日
公開日(公表日): 1999年03月30日
要約:
【要約】【課題】 精度がよい測定結果が得られる測定装置を実現することを目的にする。【解決手段】 本装置は、2つの測定信号を切り替える第1の切替部と、この第1の切替部からの信号を差動信号として入力し、差動増幅するゲインアンプと、このゲインアンプからの信号に応じてパルス幅変調信号に変調するパルス幅変調A/D変換器と、このパルス幅変調A/D変換器の反転、非反転出力を、第1の切替部と同期して切り替える第2の切替部と、この第2の切替部からの信号によりカウントするカウンタとを有することを特徴とする測定装置である。
請求項(抜粋):
2つの測定信号を切り替える第1の切替部と、この第1の切替部からの信号を差動信号として入力し、差動増幅するゲインアンプと、このゲインアンプからの信号に応じてパルス幅変調信号に変調するパルス幅変調A/D変換器と、このパルス幅変調A/D変換器の反転、非反転出力を、前記第1の切替部と同期して切り替える第2の切替部と、この第2の切替部からの信号によりカウントするカウンタとを有することを特徴とする測定装置。
IPC (3件):
H03M 1/52 ,  G01D 3/02 ,  H03M 1/12
FI (3件):
H03M 1/52 ,  H03M 1/12 A ,  G01D 3/02 N

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