高スループットの材料の物理特性測定装置及びこれを用いた測定方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：木村満 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-156483
公開番号（公開出願番号）：特開2002-022630
出願日： 2001年05月25日
公開日（公表日）： 2002年01月23日
要約：

【要約】【課題】高いスループットの組み合わせライブラリのスクリーニング用多目的装置等を提供する。【解決手段】この装置は、ライブラリの構成要素を保持するサンプルホルダと、独立したライブラリ構成要素を機械的に摂動するプローブの配列と、ライブラリ構成要素それぞれの機械的摂動に対する応答を測定するセンサの配列とを含む。スクリーニング中、この装置は、サンプル配列(サンプルホルダ)とプローブの配列とを置換することにより、独立したライブラリ構成要素を機械的に摂動する。ヤング率(曲げ、一軸延伸、二軸圧縮、剪断)、硬度(インデンテーション)、破壊(破壊時の応力と歪み、靭性)、接着(タック性、ループタック性)、及び流れ(粘度、メルトフローインデックス、レオロジー)その他を含む、多数の異なるバルクな物理特性に基づいて、材料サンプルをスクリーニングする。

請求項（抜粋）：

複数の材料サンプルを保持するための着脱可能なサンプルホルダと、少なくとも1つの端部を有し、前記材料サンプルを機械的に摂動する、少なくとも1つのプローブと、前記材料サンプルが、前記少なくとも1つのプローブに接触するように、当該端部の法線方向に、前記材料サンプルを移動させる、前記着脱可能なサンプルホルダに接続された少なくとも1つのアクチュエータと、前記少なくとも1つのプローブによる機械的摂動に対する前記材料サンプルの応答をモニタする、少なくとも1つのセンサと、を備えることを特徴とする複数の材料サンプルの物理特性測定装置。

IPC (6件)：

G01N 3/20 , G01N 1/28 , G01N 3/08 , G01N 3/32 , G01N 11/00 , G01N 37/00 103

FI (6件)：

G01N 3/20 , G01N 3/08 , G01N 3/32 Z , G01N 11/00 A , G01N 37/00 103 , G01N 1/28 N

Fターム (28件)：

2G052AA18 , 2G052FD06 , 2G052GA03 , 2G061AA01 , 2G061AA02 , 2G061AA07 , 2G061AA11 , 2G061AA15 , 2G061AB01 , 2G061AB05 , 2G061AC01 , 2G061AC03 , 2G061AC04 , 2G061AC06 , 2G061AC07 , 2G061BA06 , 2G061CA01 , 2G061CA09 , 2G061CA14 , 2G061CB01 , 2G061CC11 , 2G061CC14 , 2G061DA01 , 2G061DA12 , 2G061DA14 , 2G061EA02 , 2G061EA03 , 2G061EB03

引用特許：

出願人引用 (1件)

特開平3-012545

審査官引用 (2件)

特開平3-012545
特開平3-012545

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