特許

J-GLOBAL ID：200903076842813281

欠陥検出方法

発明者： 中元 茂実 ,  風間 彰 ,  松藤 泰大
出願人/特許権者： JFEスチール株式会社
代理人 (1件)： 中濱 泰光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-311615
公開番号（公開出願番号）：特開2004-144668
出願日： 2002年10月25日
公開日（公表日）： 2004年05月20日
要約：

【課題】輝度信号の局所的周波数、欠陥の広がりの方向性について、有効な特徴量を用いて有害欠陥の検出と分類を行う欠陥検出方法を提供する。【解決手段】工業製品の表面に生じる欠陥を光学的方法で検出する欠陥検出方法において、撮像によって得られた画像信号を2次元ウェーブレット変換により多重解像度成分に分解し、欠陥の特徴に予め対応する多重解像度成分を選択して、2次元逆ウェーブレット変換により画像を復元し、固有の局所的周波数および固有の形状をもった欠陥および非欠陥要素の画像を選択的に抽出することを特徴とする欠陥検出方法。復元した画像を2値化してHough変換により直線要素を抽出して鋼板エッジを検出すること、多重解像度成分の異なる組合せ、2値化した画像の残存画素数を用いること、さらに残存画素数に最尤決定法を適用して欠陥の分類を行うこともできる。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

工業製品の表面に生じる欠陥を光学的方法で検出する欠陥検出方法において、撮像によって得られた画像信号を2次元ウェーブレット変換により多重解像度成分に分解し、欠陥の特徴に予め対応づけられた多重解像度成分を選択して、2次元逆ウェーブレット変換により画像を復元し、固有の局所的周波数および固有の形状をもった欠陥および非欠陥要素の画像を選択的に抽出することを特徴とする欠陥検出方法。

IPC (5件)：

G01N21/892 ,  B21C51/00 ,  G01B11/30 ,  G01N21/88 ,  G06T1/00

FI (5件)：

G01N21/892 Z ,  B21C51/00 P ,  G01B11/30 A ,  G01N21/88 J ,  G06T1/00 300

Fターム (40件)：

2F065AA49 ,  2F065BB01 ,  2F065BB13 ,  2F065CC02 ,  2F065CC06 ,  2F065DD04 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065GG02 ,  2F065GG16 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ25 ,  2F065LL02 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  2F065UU05 ,  2G051AA34 ,  2G051AA37 ,  2G051AA41 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EC01 ,  2G051EC04 ,  2G051EC05 ,  2G051ED21 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CE06 ,  5B057CG09 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DC16 ,  5B057DC36