特許

J-GLOBAL ID：200903076854898509

粒子測定装置及びレーザドップラー流速計

発明者： 広永 勝治
出願人/特許権者： 日本カノマックス株式会社
代理人 (1件)： 岡本 宜喜 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-129711
公開番号（公開出願番号）：特開平10-318909
出願日： 1997年05月20日
公開日（公表日）： 1998年12月04日
要約：

【要約】【課題】 粒子の速度と形状を測定する粒子測定装置において、光の受光系の位置調整を容易に行えるようにすること。【解決手段】 レーザ光源11によってレーザビームを分割し、レンズ15によって一点で集光させる。その光をレンズ21,22により他の領域で集光させて拡大する。レンズ21,22の間にスリット付きミラー23を設け、調整時にはスリット付きミラー23を回転させて光を反射させ光軸を調整する。調整後に光を通過させることによって粒子速度及び形状を測定するようにしている。

請求項（抜粋）：

2本のレーザビームを集光して交差させ、第1の交差領域に干渉縞を形成する光源手段と、前記第1の交差領域を形成したレーザビームを平行光とする第1のレンズと、前記第1のレンズからの平行光を第2の交差領域で集光させて干渉縞を形成する第2のレンズと、前記第1,第2のレンズ間にその面に垂直な中心軸に沿って回動自在に配置され、前記2本のレーザビームを通過させる通過領域を有するミラーと、前記第1の交差領域を通過する粒子の前方及び後方への散乱光を受光する受光素子と、前記受光素子に受光される散乱光の周波数に基づいて粒子の速度を測定する粒子速度測定手段と、前記第2の交差領域に生じる第2の干渉縞に投影される影を受光する複数の光電変換手段と、前記粒子速度測定手段からの粒子速度信号と、前記複数の光電変換手段からの粒子の時系列的な投影形状とにより前記粒子の形状を構成する演算手段と、を有することを特徴とする粒子測定装置。

IPC (3件)：

G01N 15/14 ,  G01F 1/66 103 ,  G01P 5/00

FI (3件)：

G01N 15/14 P ,  G01F 1/66 103 ,  G01P 5/00 D

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 粒子測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-227981   出願人：株式会社ニシヤマ
• 特開昭62-044665