特許
J-GLOBAL ID:200903076884799734
RF-IDの検査システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
▲高▼橋 寛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-292079
公開番号(公開出願番号):特開2003-099721
出願日: 2001年09月25日
公開日(公表日): 2003年04月04日
要約:
【要約】【課題】本発明は、製造されるRF-IDの良否を検査する検査システムに関し、RF-IDの種類に応じて容易に検査可能とし、将来の種類増加に対応可能とすることを目的とする。【解決手段】アンテナ25AおよびICモジュール25Bを少なくとも備えるRF-ID21を検査対象21Xとして通信を行い、当該検査対象21Xの良否を検査する際に、駆動機構14に検査対象21Xの種類毎に用意される所定数のシステム側アンテナ31,32を複数搭載し、検査対象21Xの種類に応じて切り替えて当該検査対象21Xと通信を行わせる構成とする。
請求項(抜粋):
アンテナおよびICモジュールを少なくとも備えるRF-IDを検査対象として通信を行い、当該検査対象の良否を検査するRF-IDの検査システムであって、前記検査対象を検査位置に搬送する搬送手段と、前記検査対象の種類毎に用意される所定数のシステム側アンテナと、前記検査対象と通信を行うシステム側アンテナを複数搭載し、当該検査対象に応じた当該システム側アンテナを切り替え、当該検査対象に対して位置決めさせる駆動機構と、前記検査対象の種類に応じて当該検査対象の良否を判定するものであり、切り替えられた前記システム側アンテナを介して当該検査対象と誘導結合させて、所定のデータを送信し、当該検査対象側からの応答に基づいて当該検査対象の良否を判定する処理システムと、を有することを特徴とするRF-IDの検査システム。
IPC (5件):
G06K 17/00
, B42D 15/10 521
, G06K 19/07
, H04B 1/59
, H04B 17/00
FI (6件):
G06K 17/00 B
, G06K 17/00 F
, B42D 15/10 521
, H04B 1/59
, H04B 17/00 K
, G06K 19/00 H
Fターム (21件):
2C005MA21
, 2C005MA33
, 2C005MB01
, 2C005MB10
, 2C005NA09
, 2C005NA10
, 2C005TA22
, 2C005TA24
, 2C005TA40
, 5B035BB09
, 5B035BC08
, 5B035CA23
, 5B058CA15
, 5B058CA23
, 5B058KA28
, 5K042AA00
, 5K042CA02
, 5K042CA13
, 5K042CA17
, 5K042CA23
, 5K042JA10
引用特許:
審査官引用 (3件)
-
ICカード発行処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-061644
出願人:大日本印刷株式会社
-
リーダライタ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-149931
出願人:オムロン株式会社
-
非接触ICカードリーダライタ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-191624
出願人:株式会社デンソー
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