特許
J-GLOBAL ID：200903076900207117

金属線状材の疵検査装置、及び該装置を用いた金属線状材の連続加工装置

発明者：
小森 行剛

小森 行剛 について

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大石 仁一

大石 仁一 について

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飯田 昌宏

飯田 昌宏 について


出願人/特許権者：
大石測器株式会社

大石測器株式会社 について

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日本精線株式会社

日本精線株式会社 について


代理人 (1件)： 住友 慎太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-119900
公開番号（公開出願番号）：特開2009-270864
出願日： 2008年05月01日
公開日（公表日）： 2009年11月19日
要約：
【課題】対象線材の特性や種類に制限なく採用でき、安価で高速走行する線材に対しても検査可能な検査手段を備えた金属線状材の疵検査装置、及び連続加工装置を提供する。【解決手段】線状材Wを軸心として回転する回転体でなり、かつ線状材に直交する照射光を照射する光源部16と、その照射光と線状材からの反射光が、線状材の横断面視で90 ゚を超え180 ゚未満の角度θで受光する位置に配置した受光センサー17を備えてなる回転基体11と、その系外に設けられた照射光の供給源、並びに受光センサーによる受光データを解析して表面疵に変換するデータ解析部との系外装置における回転基体との電気的接続が、接触又は非接触方式によるコードレス化によって回路形成されるとともに、回転基体は、金属線状材の送給速度に応じて可変かつ一方向に回転可能に構成したことを特徴とする金属線状材の疵検査装置と、その装置を用いた連続加工装置である。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
送給される金属線状材の表面疵を検査する疵検査装置であって、 a)前記線状材を軸心として回転する回転体でなり、かつ該線状材に直交する照射光を照射する光源部と、その照射光と前記線状材からの反射光が、該線状材の横断面視で90 ゚を超え180 ゚未満の角度θで受光する位置に配置した受光センサーを備えた回転基体と、 b)その系外に設けられた前記照射光の供給源、並びに受光センサーによる受光データを解析して表面疵に変換するデータ解析部との系外装置における前記回転基体との電気的接続が、接触又は非接触方式によるコードレス化によって回路形成されるとともに、 c)前記回転基体は、前記金属線状材の送給速度に応じて可変かつ一方向に連続回転可能に構成したことを特徴とする金属線状材の疵検査装置。
IPC (2件)：
G01N 21/892 ,  B21C 51/00
FI (2件)：
G01N21/892 C ,  B21C51/00 P
Fターム (10件)：
2G051AA44 ,  2G051AB07 ,  2G051BC01 ,  2G051CA01 ,  2G051CA08 ,  2G051CB01 ,  2G051CC09 ,  2G051CD09 ,  2G051EA12 ,  2G051EC03
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (10件)
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