特許
J-GLOBAL ID：200903076915427857
積層セラミックコンデンサおよびその製造法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
丸岡 政彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-069243
公開番号（公開出願番号）：特開平5-226178
出願日： 1992年02月18日
公開日（公表日）： 1993年09月03日
要約：
【要約】【目的】 歩留りを低下させることなく、簡易な手段で積層ズレを検査することができる積層セラミックコンデンサおよびその製造法の提供。【構成】 ドクターブレード法によりセラミックグリーンシート1を作製し、作製したグリーンシート1上にAgペーストを用いてスクリーン印刷法により内部電極2および長方形の積層状態確認用マーカー3を印刷する。次に、上記グリーンシートを所定の大きさに切断し、内部電極2を印刷したシート1を必要枚数積層し、その上下に保護層として内部電極2を印刷していないグリーンシート1を積層する。積層後、この積層体を熱圧着し、切断線4でチップ寸法に裁断して生チップを得る。次いで、得られた生チップの積層状態をその外観から検査し、検査後、該生チップを焼成し、内部電極露出端面に外部電極を形成して積層セラミックコンデンサを得る。
請求項（抜粋）：
誘電体内部に、薄い誘電体層を挟んで容量を取得するための内部電極が交互に対向して内設され、内部電極が露出する端面に外部電極が形成されている基本構造を持つ積層セラミックコンデンサであって、上記内部電極とチップ側面との間のサイドマージンに、内部電極露出端面への露出状況によって積層精度が確認される積層精度確認用マーカーが、内部電極を挟んで1つずつ形成されていることを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
IPC (4件)：
H01G 4/12 352
, H01G 1/04
, H01G 4/12 364
, H01G 4/30 301
