特許

J-GLOBAL ID：200903076940467723

X線束を調節するために制御ループを含むX線検査装置

発明者： スヌーレン,ルードルフ エム ,  リンデルス,ペトルス ウェー イェー ,  ネーデルペルト,クリスティアヌス ヘー エル
出願人/特許権者： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
代理人 (1件)： 伊東 忠彦
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-589010
公開番号（公開出願番号）：特表2002-532868
出願日： 1999年12月01日
公開日（公表日）： 2002年10月02日
要約：

【要約】X線検査装置は、X線ビームを出射するX線源(1)と、X線画像を検出し光学的画像に変換するX線検出器(6)と、X線検出器に光学的結合手段(9)を介して結合されるビデオ抽出器(8)とを有する。光学的結合手段(9)には光束の一部分をフォトセンサ(12)に供給する光学ピックアップ(11)が設けられ、このフォトセンサ(12)はX線源(1)からのX線束を調節するために制御信号を発生する。フォトセンサ(6)は、センサ素子の配列、各ピクセル中で又は各ピクセルによって検出された信号のための重みづけ手段、及び、検出され重みづけされた信号から平均値信号を決定する手段を有し、それによりX線源(1)から出射される上記X線束を調節するために得られた制御信号が帰還される。

請求項（抜粋）：

X線ビームを出射するX線源と、X線画像を検出し光学的画像に変換するX線検出器と、上記X線検出器に光学的結合手段を介して結合されるビデオ抽出器とを有し、上記光学的結合手段には光束の一部分をフォトセンサに供給する光学ピックアップが設けられ、上記フォトセンサは上記X線源からのX線束を調節するために制御信号を発生するX線検査装置であって、 上記フォトセンサは、センサ素子の配列、上記各ピクセル中で又は上記各ピクセルによって検出された信号のための重みづけ手段、及び、上記検出され重みづけされた信号から平均値信号を決定する手段を有し、それにより上記X線源から出射される上記X線束を調節するために帰還される制御信号が得られることを特徴とするX線検査装置。

IPC (5件)：

H05G 1/64 ,  A61B 6/00 320 ,  G21K 5/00 ,  G21K 5/02 ,  H05G 1/44

FI (5件)：

H05G 1/64 E ,  A61B 6/00 320 Z ,  G21K 5/00 A ,  G21K 5/02 X ,  H05G 1/44 A

Fターム (17件)：

4C092AA01 ,  4C092AB03 ,  4C092CC03 ,  4C092CD06 ,  4C092CF02 ,  4C092CF24 ,  4C092CF47 ,  4C092CJ16 ,  4C092DD10 ,  4C093AA01 ,  4C093CA04 ,  4C093EB02 ,  4C093EB12 ,  4C093EB30 ,  4C093FA18 ,  4C093FD02 ,  4C093FD12