特許
J-GLOBAL ID:200903076955452650

SN比検出装置および雑音低減装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 谷 義一 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-064511
公開番号(公開出願番号):特開平10-262160
出願日: 1997年03月18日
公開日(公表日): 1998年09月29日
要約:
【要約】【課題】 画像の局所的特徴によってSN比を誤検出することなく、画質劣化の少ない雑音低減を実現すること。【解決手段】 ローカルSN比検出部200は、ブロック化処理回路100でブロック化した入力画像のブロック毎に2次元SN比と3次元SN比を求め、両SN比のうちノイズが少ない方の値を該当ブロックのローカルSN比とする。グローバルSN比検出部400は、ローカルSN比を入力画像全体について集計し、最頻値をグローバルSN比とする。閾値設定部500は、ローカルSN比とグローバルSN比のうちノイズが少ない方の値に従って各ブロックの画像に応じた閾値を設定する。雑音低減部600は、入力画像中の処理対象画素の近傍画素のうち、処理対象画素の画素値との差分が処理対象画素が属するブロックに設定された閾値以下の画素値となる画素の平均画素値で、処理対象画素の画素値を置き換える。
請求項(抜粋):
入力画像を複数のブロックに分割し、前記ブロック毎に2次元SN比と3次元SN比を求め、両SN比のうちノイズが少ない方の値を該当ブロックのローカルSN比とするローカルSN比検出手段と、前記ローカルSN比を前記入力画像全体について集計し、最頻値をグローバルSN比とするグローバルSN比検出手段と、前記ローカルSN比と前記グローバルSN比のうちノイズが少ない方の値を前記ブロック毎に選択するSN比選択手段とを備えたことを特徴とするSN比検出装置。

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