特許
J-GLOBAL ID：200903077068506601
非接触画像計測システム及びエッジ追跡測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-034106
公開番号（公開出願番号）：特開平8-292015
出願日： 1996年02月21日
公開日（公表日）： 1996年11月05日
要約：
【要約】【課題】 形状が未知又は変化する物体に対しても柔軟にエッジ追跡を行って必要な計測情報を抽出することを可能とし、操作性を向上させる。【解決手段】 追従すべきエッジ42を含む被測定画像にエッジ42の一部を含むようにウィンドウ43を設定し、設定されたウィンドウ43内の画像情報から複数のエッジ点44を検出する。検出された複数のエッジ点44に近似直線Lを当てはめ、この近似直線Lに沿って一部の領域が現在のウィンドウ43に重なるように次の新たなウィンドウ43を設定する。そして、新たなウィンド43内の画像情報に基づいてエッジ点の検出、直線の当てはめ、及び新たなウィンドウの生成を順次繰り返すことにより、ウィンドウ43を被測定画像のエッジ42に沿って順次移動させながらウィンドウ43内の必要な計測情報を抽出していく。
請求項（抜粋）：
追従すべきエッジを含む被測定画像に前記エッジの一部を含むようにウィンドウを設定するためのステップと、設定されたウィンドウ内の画像情報から前記ウィンドウ内の複数のエッジ点を検出するステップと、このステップで検出された複数のエッジ点に近似直線を当てはめるステップと、このステップで当てはめられた近似直線に沿って一部の領域が現在のウィンドウに重なるように次の新たなウィンドウを設定するステップとを備え、前記新たなウィンド内の画像情報に基づいて前記エッジ点の検出、前記直線の当てはめ、及び前記新たなウィンドウの生成を順次繰り返すことにより、前記ウィンドウを前記被測定画像のエッジに沿って順次移動させながら前記ウィンドウ内で必要な測定点を抽出していくことを特徴とするエッジ追跡測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/00 H
, G01B 11/24 C
