特許
J-GLOBAL ID：200903077085809871
インライン粉粒体水分測定システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
瀧野 秀雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-038409
公開番号（公開出願番号）：特開2002-243638
出願日： 2001年02月15日
公開日（公表日）： 2002年08月28日
要約：
【要約】【課題】 粉粒体の製造ラインであるベルトコンベアで移動する粉粒体の水分を自動で、迅速に、精度よく連続測定する。【解決手段】 ベルトコンベアA上を移動する粉粒体層B(結晶塩層)の表面を整流板Cで平滑にする。赤外反射式水分計Eにより粉粒体の水分や粒径に応じた電圧信号を得る。光学式変位計Fにより、表面を平滑にした粉粒体層B1の表面の変位を微小長さごとにmsオーダーの高速で測定して電圧信号として得る。赤外反射式水分計Eの水分出力値と光学式変位計Fの変位出力値をデータ収集装置Gにより高速で取り込む。演算処理装置Hにより、平均水分出力値、微小長さ間の変位出力値差の絶対値(変位差)を順次算出し、平均して平均変位差を算出する。平均水分出力値と平均変位差を用いて、予め作成しておいた粉粒体の水分と平均水分出力値及び平均変位差との関係式から粉粒体の水分を演算する。
請求項（抜粋）：
ベルトコンベア上を移動する粉粒体の水分をインラインで自動測定するインライン粉粒体水分測定システムであって、移動する粉粒体層の表面を平滑にするための均し手段と、前記平滑にされた移動する粉粒体層について、粉粒体の水分および比表面積あるいは粒径に応じた出力値を出力する赤外反射式水分計と、前記平滑にされた移動する粉粒体層の表面の変位を微小長さごとに高速で測定し該変位に応じた出力値を出力する光学式変位計と、前記赤外反射式水分計と前記光学式変位計から出力されたそれぞれの出力値を高速で取り込むデータ収集装置と、前記赤外反射式水分計の出力値を平均することにより平均水分出力値を算出し、前記光学式変位計の微小長さごとの出力値から微小長さ間の変位出力値差の絶対値である変位差を順次算出し、さらに平均することにより粉粒体の比表面積と高い相関関係にある平均変位差を算出し、算出した平均水分出力値と平均変位差を用いて、予め作成しておいた粉粒体の水分と平均水分出力値および平均変位差との関係式から粉粒体の水分を演算する演算処理装置と、から構成されたことを特徴とするインライン粉粒体水分測定システム。
Fターム (11件)：
2G059AA01
, 2G059AA05
, 2G059BB09
, 2G059CC09
, 2G059DD12
, 2G059EE02
, 2G059FF04
, 2G059HH01
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059MM12
