特許

J-GLOBAL ID：200903077107030857

磁場下物性測定装置

発明者： 坪内 宏和 ,  木村 昭夫
出願人/特許権者： 古河電気工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-049768
公開番号（公開出願番号）：特開平8-248001
出願日： 1995年03月09日
公開日（公表日）： 1996年09月27日
要約：

【要約】【目的】 小型で、設備費やランニングコストが安価で、サンプル交換が容易に行える磁場下物性測定装置を提供する。【構成】 超電導磁石13の発生磁場下にサンプル保持具14を配置した磁場下物性測定装置において、第1ステージ17と第2ステージ18を有する2段式冷凍機16の第1ステージ17に超電導磁石13が、第2ステージ18にサンプル保持具14がそれぞれ熱的に接続されている。【効果】 冷凍機16が1台で済むので、装置が小型であり、又設備費やランニングコストが安価であり、サンプル交換も容易である。更にサンプル保持具14配置空間を超電導磁石13配置空間及び真空容器11内から気密に遮断し且つサンプル保持具14配置空間を真空容器11外方に直接開放可能にすることにより、サンプル交換が迅速に行える。

請求項（抜粋）：

超電導磁石の発生磁場下にサンプル保持具を配置した磁場下物性測定装置において、第1ステージと第2ステージとを有する多段式冷凍機の第1ステージに超電導磁石が、第2ステージにサンプル保持具がそれぞれ熱的に接続されていることを特徴とする磁場下物性測定装置。

IPC (4件)：

G01N 27/72 ,  F25B 9/00 ,  G01R 33/3815 ,  G01R 33/12

FI (4件)：

G01N 27/72 ,  F25B 9/00 H ,  G01R 33/12 Z ,  G01N 24/06 510 D