特許

J-GLOBAL ID：200903077111046016

電解質測定法及び装置

発明者： 川瀬 一光 ,  沖 直人 ,  菅原 研之
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 高田 幸彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-030941
公開番号（公開出願番号）：特開平8-220049
出願日： 1995年02月20日
公開日（公表日）： 1996年08月30日
要約：

【要約】【目的】本発明の目的は測定デ-タの信頼性を向上させるとともに、オペレ-タの負担および試薬のランニングコストの低減を図るこにある。【構成】イオン選択電極を用いたイオン濃度測定で電極感度の有効範囲を設け、電極感度のチェック時に測定値が前記有効範囲内であれば、その値を更新せず前回までの電極感度の値を測定イオン濃度の算出に用い、有効範囲を越えたときには注意のアラ-ムを表示する。

請求項（抜粋）：

イオン選択電極を用いて試料中の電解質を測定する電解質測定法であって、前記イオン選択電極を用い、検量線の傾きをある特定の値に設定した状態で傾きチェック用試薬を測定し、その測定結果が予め定められた範囲にあるとき前記ある特定の値に設定された検量線の傾きを維持した状態で前記試料中の電解質を測定することを特徴とする電解質測定法。