特許
J-GLOBAL ID:200903077199904203
有機EL素子の製造方法および有機EL素子
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石井 陽一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-306639
公開番号(公開出願番号):特開平11-126689
出願日: 1997年10月21日
公開日(公表日): 1999年05月11日
要約:
【要約】【課題】 リーク電流やダークスポットの発生を抑制し、長寿命で高信頼性の有機EL素子の製造方法および有機EL素子を提供する。【解決手段】 ターゲットと基板とを有し、前記基板上に電極および有機層を有する有機EL素子を成膜する有機EL素子の製造方法であって、前記有機EL素子を成膜するに際し、予め基板表面をスパッタ法にて逆スパッタ処理する有機EL素子の製造方法とした。
請求項(抜粋):
基板上に電極および有機層を有する有機EL素子を成膜する有機EL素子の製造方法であって、前記有機EL素子を成膜するに際し、予め基板表面をスパッタ法にて逆スパッタ処理する有機EL素子の製造方法。
IPC (4件):
H05B 33/10
, H05B 33/02
, H05B 33/14
, H05B 33/26
FI (4件):
H05B 33/10
, H05B 33/02
, H05B 33/14 A
, H05B 33/26 Z
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