特許
J-GLOBAL ID:200903077216934642
測量装置および測量方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
森 哲也 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-169895
公開番号(公開出願番号):特開平10-019562
出願日: 1996年06月28日
公開日(公表日): 1998年01月23日
要約:
【要約】【課題】測量時間を短縮した、高速の測量等を行う機能を有する装置を提供すること。【解決手段】測量対象領域のうちの、特定部分内の測距を細かなピッチで行う測量方法であって、測量対象領域の左・右画像情報であるステレオ画像情報を得て、得られた左・右画像情報の夫々に対して、輪郭線抽出を行うステップと、該輪郭線に基づいて左右画像の対応付けを行い、対応付け可能な輪郭線付近を特定部分とするステップと、前記特定部分に対して、特定のピッチで測距を行うステップと、を含む測量方法である。
請求項(抜粋):
測量対象領域のうちの、特定部分の測距を細かなピッチで行う測量装置であって、測量対象領域の左・右画像情報であるステレオ画像情報を得るための撮影装置と、得られた左・右画像情報の特徴抽出を行う画像処理装置と、前記測量対象領域のうちの、特定部分での測距を特定ピッチ行う測距装置と、前記画像処理装置が行った特徴抽出を参照して、前記測距装置に前記特定部分を特定する情報を与える処理装置と、を備える測量装置。
IPC (5件):
G01C 3/14
, G01B 11/00
, G01C 3/06
, G01C 11/02
, G06T 1/00
FI (5件):
G01C 3/14 Z
, G01B 11/00 A
, G01C 3/06 V
, G01C 11/02
, G06F 15/62 380
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開平3-167412
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3次元情報取り込み方式
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-328670
出願人:ファナック株式会社
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特開平3-167412
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