特許

J-GLOBAL ID：200903077216934642

測量装置および測量方法

発明者： 神崎 正 ,  西澤 修一 ,  松本 三千緒
出願人/特許権者： 大成建設株式会社
代理人 (1件)： 森 哲也 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-169895
公開番号（公開出願番号）：特開平10-019562
出願日： 1996年06月28日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：

【要約】【課題】測量時間を短縮した、高速の測量等を行う機能を有する装置を提供すること。【解決手段】測量対象領域のうちの、特定部分内の測距を細かなピッチで行う測量方法であって、測量対象領域の左・右画像情報であるステレオ画像情報を得て、得られた左・右画像情報の夫々に対して、輪郭線抽出を行うステップと、該輪郭線に基づいて左右画像の対応付けを行い、対応付け可能な輪郭線付近を特定部分とするステップと、前記特定部分に対して、特定のピッチで測距を行うステップと、を含む測量方法である。

請求項（抜粋）：

測量対象領域のうちの、特定部分の測距を細かなピッチで行う測量装置であって、測量対象領域の左・右画像情報であるステレオ画像情報を得るための撮影装置と、得られた左・右画像情報の特徴抽出を行う画像処理装置と、前記測量対象領域のうちの、特定部分での測距を特定ピッチ行う測距装置と、前記画像処理装置が行った特徴抽出を参照して、前記測距装置に前記特定部分を特定する情報を与える処理装置と、を備える測量装置。

IPC (5件)：

G01C 3/14 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G01C 11/02 ,  G06T 1/00

FI (5件)：

G01C 3/14 Z ,  G01B 11/00 A ,  G01C 3/06 V ,  G01C 11/02 ,  G06F 15/62 380

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-167412
  
• 3次元情報取り込み方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-328670   出願人：ファナック株式会社
• 特開平3-167412