特許
J-GLOBAL ID：200903077237072357
高分子材料の熱光学定数測定方法及び高分子薄膜の熱光学定数測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉村 興作 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-310615
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116164
出願日： 2000年10月11日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：
【要約】【課題】 高分子光導波路デバイスなどに使用する高分子材料又は高分子薄膜の熱光学定数に対する新規な測定方法を提供する。【解決手段】 光源1から発せられたレーザ光を、λ/2板2を透過させることにより、TEモード光又はTMモード光の光を得る。そして、偏光子3で偏光を揃えた後、レンズ4で収束させて、回転ステージ5上の高分子光導波路素子10を構成する、格子状の高分子薄膜12に角度θで入射させる。このとき、回転ステージ5を回転させることにより角度θを変化させ、複数のモードの反射光が得られるようにする。そして、各モードの反射光の反射角度θ0及びθ1を測定して、屈折率ngを得る。さらに、上記操作を異なる複数の温度で実施し、各温度Tに対する屈折率ngを得、これらの関係を表したグラフの勾配から熱光学定数dng/dTを導出する。
請求項（抜粋）：
高分子材料の温度を変化させて異なる複数の温度に保持するとともに、それぞれの温度に保持された高分子材料の表面に光を入射させて、前記高分子材料の前記表面から複数のモードの反射光を得、これら複数のモードの反射光の反射角度を求めることにより、前記高分子材料の熱光学定数を測定することを特徴とする、高分子材料の熱光学定数測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 25/02 Z
, G01N 21/41 Z
2G040AA00
, 2G040BA25
, 2G040BA26
, 2G040CA05
, 2G040CA12
, 2G040CA23
, 2G059AA02
, 2G059BB08
, 2G059DD13
, 2G059DD16
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059GG01
, 2G059GG04
, 2G059JJ11
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059KK10
