特許

J-GLOBAL ID：200903077321051101

自動分析装置

発明者： 中野 清和
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-197092
公開番号（公開出願番号）：特開平5-018979
出願日： 1991年07月10日
公開日（公表日）： 1993年01月26日
要約：

【要約】【目的】 水ブランク測定によるよりも反応容器の汚れを高感度に検出し、汚染反応容器を選択的に洗浄できるようにする。【構成】 測定制御部1は測定部2で乾燥状態の反応容器に紫外線から近赤外線域の光束を照射させ、その透過光の光量を測定する。比較判定部3は各反応容器についての測定値と各反応容器の基準となる値との差を求め、その差を許容値と比較して洗浄の要否を判定する。洗浄制御部4は比較判定部3で洗浄が必要であると判定された反応容器に対して洗浄機構5の起動を制御する。

請求項（抜粋）：

反応容器を繰り返し使用する反応容器測光形自動分析装置において、測定部で乾燥状態の反応容器に紫外線から近赤外線域の光束を照射させ、その透過光の光量を測定する測定制御部と、各反応容器についての測定値と各反応容器の基準となる値との差を求め、その差を許容値と比較して洗浄の要否を判定する比較判定部と、比較判定部で洗浄が必要であると判定された反応容器に対して洗浄機構の起動を制御する洗浄制御部とを備えた自動分析装置。