特許

J-GLOBAL ID：200903077344530961

荷電粒子線照射装置

発明者： 蒲 越虎 ,  坂本 豪信
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 田澤 博昭 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-023723
公開番号（公開出願番号）：特開2000-221300
出願日： 1999年02月01日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：

【要約】【課題】 遮蔽物6の電流検出の際に、その測定ケーブルが遮蔽物6のリング状のスリット6aを横切ってしまう。【解決手段】 偏向電磁石2,3により荷電粒子線1が所定軸4を中心にして回転されるように偏向すると共に、遮蔽物21を所定軸4を中心にして回転されるように駆動制御し、偏向電磁石2,3によって偏向された荷電粒子線5がスリット21aを通過するように構成した。

請求項（抜粋）：

偏向手段によって偏向された荷電粒子線を通過する開口部が設けられた遮蔽手段と、上記偏向手段により荷電粒子線が所定軸を中心にして偏向されるように駆動制御すると共に、その駆動制御に同期して上記遮蔽手段をその所定軸を中心にして駆動制御し、その偏向手段によって偏向された荷電粒子線が上記開口部を通過するようにする駆動制御手段と、上記開口部を通過した荷電粒子線を散乱させ、所要の照射野を形成する散乱手段と、上記偏向手段、上記遮蔽手段、および上記散乱手段を所定の位置に保持する保持手段と、上記遮蔽手段に照射された荷電粒子線量を計測する計測手段とを備えた荷電粒子線照射装置。

IPC (5件)：

G21K 5/04 ,  A61N 5/10 ,  G01T 1/29 ,  G21K 1/02 ,  G21K 1/10

FI (6件)：

G21K 5/04 S ,  G21K 5/04 C ,  A61N 5/10 D ,  G01T 1/29 B ,  G21K 1/02 C ,  G21K 1/10 S

Fターム (22件)：

2G088EE01 ,  2G088FF13 ,  2G088GG27 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ12 ,  2G088JJ29 ,  2G088JJ31 ,  2G088JJ33 ,  2G088JJ37 ,  4C082AA01 ,  4C082AC04 ,  4C082AC05 ,  4C082AC06 ,  4C082AE01 ,  4C082AG11 ,  4C082AG12 ,  4C082AG22 ,  4C082AJ06 ,  4C082AP01 ,  4C082AP11 ,  4C082AP20 ,  4C082AR05