特許

J-GLOBAL ID：200903077360089582

X線吸収微細構造分析装置及びK吸収端差分法を用いたX線CT装置

発明者： 岩田 周行
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 瀧野 秀雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-085994
公開番号（公開出願番号）：特開2002-286657
出願日： 2001年03月23日
公開日（公表日）： 2002年10月03日
要約：

【要約】【課題】 同時に2種類の元素のスペクトルを測定できるようにすること。【解決手段】 X線を分光して単色化する単結晶2と、単色化されたX線23を透過させる試料7の支持部分と、試料7を透過したX線を検出するX線検出器8とからなるX線吸収微細構造分析装置に関する。X線の入射側から最初に位置する第一結晶2は、回折と透過とによってX線を二つの光路に分割する単結晶である。

請求項（抜粋）：

X線を分光して単色化する単結晶と、単色化されたX線を透過させる試料の支持部分と、試料を透過したX線を検出するX線検出器とからなるX線吸収微細構造分析装置において、X線の入射側から最初に位置する第一結晶は、回折と透過とによってX線を二つの光路に分割する単結晶であることを特徴とするX線吸収微細構造分析装置。

IPC (3件)：

G01N 23/06 ,  G01N 23/04 ,  G21K 5/02

FI (3件)：

G01N 23/06 ,  G01N 23/04 ,  G21K 5/02 X

Fターム (10件)：

2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA13 ,  2G001CA01 ,  2G001DA06 ,  2G001GA01 ,  2G001HA08 ,  2G001HA14 ,  2G001KA01 ,  2G001PA12