特許
J-GLOBAL ID:200903077364690221
表面パターン読取装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長谷川 芳樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-220168
公開番号(公開出願番号):特開平8-083335
出願日: 1994年09月14日
公開日(公表日): 1996年03月26日
要約:
【要約】【目的】 本発明は、外部から侵入した光の影響を受け難い表面パターン読取装置を提供することを目的とする。【構成】 基準面に沿って搬送される読取対象物が所定の領域に到達した場合に、発光手段(15)からの光が読取対象物の表面を照射する。撮像手段(13)では、この照射タイミングに同期して、内部電極に電荷を蓄積させる第1の処理を行う。この第1の処理によって、読取対象物の表面で反射した光の像が電荷として内部電極に蓄積される。第1の処理が終了すると、終了タイミングと同期して、第2の処理が実行される。この第2の処理によって、内部電極に蓄積された読取対象物の表面パターン像の電荷が出力される。
請求項(抜粋):
所定の基準面に沿って搬送される読取対象物の表面パターンを読み取る表面パターン読取装置において、前記基準面の所定の撮像領域に前記読取対象物が到達した場合に、前記読取対象物の表面に光を照射する発光手段と、光の入射を受けて内部電極に電荷を蓄積させる第1の処理と前記内部電極に蓄積された電荷を出力する第2の処理を実行する機能を有し、前記発光手段からの光の照射タイミングと同期して前記第1の処理を行い、前記発光手段からの照射光が前記読取対象物の表面で反射した光の入射を受けて内部電極に電荷を蓄積させ、さらに、前記第1の処理の終了タイミングと同期して前記第2の処理を行い、前記内部電極に蓄積された電荷を出力する撮像手段とを備えることを特徴とする表面パターン読取装置。
IPC (2件):
G06T 1/00
, G07D 5/02 104
FI (2件):
G06F 15/64 320 G
, G06F 15/64 325 B
引用特許:
審査官引用 (2件)
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特開平4-369086
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画像検出方法およびその装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-039786
出願人:ダイキン工業株式会社
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