特許

J-GLOBAL ID：200903077370912066

超音速分子ジェット分光分析方法及び装置

発明者： 今坂 藤太郎
出願人/特許権者： 財団法人 北九州産業学術推進機構
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-219178
公開番号（公開出願番号）：特開2003-035699
出願日： 2001年07月19日
公開日（公表日）： 2003年02月07日
要約：

【要約】【課題】 極微量の試料で安全かつ高感度でダイオキシン類の質量分析を行うことができる超音速分子ジェット分光分析方法及び装置を提供すること。【解決手段】 焼却炉等からのダイオキシンを含む飛灰、活性炭微粒子に有機溶媒を加えて溶液試料とし、該溶液試料を超音速分子ジェット分光分析装置における真空チャンバー内のキャリアガス噴出ノズルに臨ませて送給して溶媒を蒸発せしめ、残留する固体試料に指向してパルスレーザーを照射して気化させて前記キャリアガス中に搬送し、その下流において波長可変レーザーを照射して試料をイオン化しさらに、イオンを引き出し電極で加速し、該イオンが検出器に到達する飛行時間を測定する質量分析を行う超音速分子ジェット分光分析方法及び装置。

請求項（抜粋）：

焼却炉等からの、ダイオキシンを含む飛灰、活性炭微粒子に有機溶媒を加えて溶液試料とし、該溶液試料を、超音速分子ジェット分光分析装置における真空チャンバー内のキャリアガス噴出ノズルに臨ませて送給、吐出せしめて溶媒を蒸発させ、残存する固体試料に指向して試料蒸発用パルスレーザーを照射して測定対象分子を気化させて前記キャリアガス中に搬送し、その下流において試料イオン化用波長可変レーザーを照射してイオン化せしめさらに、イオンを引き出し電極で加速し、該イオンがイオン検出器に到達する時間を測定する質量分析を行うようにしたことを特徴とする超音速分子ジェット分光分析方法。

IPC (5件)：

G01N 27/62 ZAB ,  G01N 27/62 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/22 ,  G01N 27/64

FI (5件)：

G01N 27/62 ZAB V ,  G01N 27/62 F ,  G01N 1/00 101 B ,  G01N 1/22 T ,  G01N 27/64 B

Fターム (18件)：

2G052AA02 ,  2G052AB12 ,  2G052AB22 ,  2G052AD29 ,  2G052AD35 ,  2G052AD42 ,  2G052CA03 ,  2G052CA04 ,  2G052CA11 ,  2G052EA03 ,  2G052EB01 ,  2G052EB02 ,  2G052EB11 ,  2G052FD09 ,  2G052GA24 ,  2G052HC29 ,  2G052JA09 ,  2G052JA24