特許

J-GLOBAL ID：200903077405764022

表面の非破壊染色浸透探傷方法およびシステム

発明者： パリオテ、ピエール-マリー
出願人/特許権者： ホロアーズ・インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 広瀬 章一
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-564033
公開番号（公開出願番号）：特表2002-522764
出願日： 1999年08月05日
公開日（公表日）： 2002年07月23日
要約：

【要約】 本発明は、クラックが入っている恐れがある表面Sの状態を非破壊検査する方法に関し、表面上およびクラック内にある染料が染料に適した波長の入射励起ビームの作用下に発する光波を観察することに基づく方法を利用する。本発明は、染料が発する直線偏光波を、染料の厚みに従って、入射直線偏光ビームに対して回転させることを利用して、表面に存在する残留染料に起因するスポットを観察から消去することを特徴とする。添付図面において、数字1はレーザー、数字2は観察カメラ、数字3は偏光波アナライザーである。本発明は、染料浸食探傷および磁粉探傷法に適用可能である。

請求項（抜粋）：

表面に塗布され、クラック内に存在する染料が、この染料に適した波長の入射励起ビームに応答して発する波を観察することにより、クラックを有するかもしれない表面の状態を非破壊的に検査する方法であって、直線偏光波からなる入射ビームと、染料の厚みに依存する、この直線偏光波の方向と染料が発する直線偏光波の方向との間の角度とを利用して、表面上の残留染料に起因するスポットを観察から消去することを特徴とする方法。

IPC (2件)：

G01N 21/91 ,  G01N 27/84

FI (2件)：

G01N 21/91 A ,  G01N 27/84

Fターム (7件)：

2G051GC04 ,  2G051GC18 ,  2G051GC20 ,  2G053AA11 ,  2G053AB22 ,  2G053CB29 ,  2G053DC03