特許
J-GLOBAL ID：200903077414273473
非接触計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田澤 博昭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-219285
公開番号（公開出願番号）：特開平5-040031
出願日： 1991年08月06日
公開日（公表日）： 1993年02月19日
要約：
【要約】【目的】 切削加工中に被切削物の寸法を測定しうる非接触計測装置を得る。【構成】 渦電流式センサ3により被切削物1の外周までの距離Δxが計測される。また、光測長器4によりミラー5までの距離lが計測される。コントロールユニット8は、Δx、l、固定長であるミラー5と渦電流式センサ3の先端との距離C、およびあらかじめ光測長器4により測定された被切削物1の中心までの距離Lにもとづいて、被切削物1の径Dを算出する。
請求項（抜粋）：
切削機械によって切削される被切削物の寸法を非接触で計測する非接触計測装置において、前記被切削物までの距離を計測する渦電流式センサと、この渦電流式センサに固定されたミラーと、前記被切削物の中心までの距離および前記ミラーまでの距離を計測する光測長器と、前記渦電流式サンサの計測値および前記光測長器の計測値にもとづいて前記被切削物の寸法を算出する演算部とを備えたことを特徴とする非接触計測装置。
IPC (2件)：
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