半導体集積回路および半導体集積回路の検査方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：滝本智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-002020
公開番号（公開出願番号）：特開平10-197603
出願日： 1997年01月09日
公開日（公表日）： 1998年07月31日
要約：

【要約】【課題】スキャン設計された半導体集積回路において、スキャンテスト時の消費電力を削減する。【解決手段】順序回路部41は、スキャンチェーングループ31と32を備え、スキャンチェーングループ31と32はそれぞれ、1つ以上のスキャンチェーンから構成されている。検査時において、スキャン制御部51は、スキャンチェーングループ31と32に対して、それぞれ選択的にシフト動作のクロックを供給する。

請求項（抜粋）：

複数のスキャンチェーンを備えた半導体集積回路において、前記各スキャンチェーンに対して選択的にシフト動作のクロックを供給することを特徴とする半導体集積回路。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , G06F 11/22 360

FI (3件)：

G01R 31/28 G , G06F 11/22 360 P , G01R 31/28 V

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平1-100476
特開昭63-148179
特開平1-100476

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